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輸出本質(zhì)安全型電源CSTI
輸出本質(zhì)安全型電源CSTI
型號:CSTI
CSTI輸出本質(zhì)安全型電源,安裝于安全場合或隔爆腔內(nèi),用于向I類本質(zhì)安全型設(shè)備提供電源。本電源裝置具有雙重化過過流保護(hù)、雙重化的穩(wěn)定輸出功能,防爆型式:[Exib] I,[Exib] I Mb,[Exia] I Mb.
(證書號: 第1210531號) 查看證書詳細(xì)
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1. CSTI輸出本質(zhì)安全型電源共有四類:CSTI-I; CSTI-II; CSTI-III; CSTI-IV。
2. 基本性能參數(shù):
(a) 輸出電壓偏離值:≤2%
(b) 源效應(yīng):≤5%
(c) 負(fù)載效應(yīng):≤5%
(d) 周期與隨機(jī)偏移峰-峰值(Vp-p):≤250mV
產(chǎn)品名稱:太陽輻射標(biāo)準(zhǔn)觀測站(標(biāo)準(zhǔn)五要素) 產(chǎn)品型號:WS-PC-2-T |
太陽輻射標(biāo)準(zhǔn)觀測站(標(biāo)準(zhǔn)五要素) 型號:WS-PC-2-T
太陽輻射是氣象觀測指標(biāo)中重要內(nèi)容,根據(jù)氣象組織WMO標(biāo)準(zhǔn)要求,可*適用于野外低溫地氣候環(huán)境監(jiān)測要求。太陽輻射標(biāo)準(zhǔn)觀測分為:(總輻射、散射輻射、直接輻射、反射輻射、凈全輻射), 太陽輻射分光譜觀測分為:(紫外光、可見光、紫藍(lán)光、綠光、澄紅光、紅外光)對此項內(nèi)容的記錄分析將對人類研究太陽能、氣象、環(huán)境海洋、農(nóng)業(yè)生態(tài)、建筑材料等起到重大作用。
一、概念及技術(shù)指標(biāo)
1、總輻射
水平表面上,在2π立體角內(nèi)所接收到的太陽直接輻射和散射太陽輻射之和稱為總輻射(短波)。總輻射是輻射觀測zui基本的項目??傒椛溆每傒椛浔恚ㄒ喾Q天空輻射表)測量。
總輻射表技術(shù)參數(shù):
01.通道數(shù):第1路
02.光譜范圍:280----3000nm
03.靈敏度:7~14μV/w.m-2
04.響應(yīng)時間: ≤30秒(99%)
05.顯示分辨率:1W
06.內(nèi)阻:約350Ω
07.穩(wěn)定性:±2%
08.余弦響應(yīng):≤±7%(太陽高度角10時)
09.溫度特性:±2%(-20℃~+40℃)
10.非線性:±2%
11.重量:2.5kg
12.精度: <5%
13.測試范圍:0~4000W/m2
14.信號輸出:0~20mV
2、凈全輻射
由天空(包括太陽和大氣)向下投射的和由地表(包括土壤、植物、水面)向上投射的全波段輻射量之差稱為凈全輻射,簡稱凈輻射。凈全輻射是研究地球熱量收支狀況的主要資料。凈全輻射為正表示地表增熱,即地表接收到的輻射大于發(fā)射的輻射,凈全輻射為負(fù)表示地表損失熱量。凈全輻射用凈全輻射表測量。
凈全輻射表技術(shù)參數(shù) :
01.通道數(shù):第2路
02.光譜范圍:280-----50000nm
03.靈敏度:7~14μV/W.m-2
04.顯示分辨率:1W
05.內(nèi)阻:約350Ω
06.時間響應(yīng):不大于1分鐘(99%)
07.感應(yīng)面*性:±10%
08.使用環(huán)境溫度:-45℃~+40℃
09.精度:±5%
10.重量:0.5kg
11.測試范圍:0~4000W/m2
12.信號輸出:0~20mV
3、直接輻射
測量垂直太陽表面(視角約0.5°)的輻射和太陽周圍很窄的環(huán)形天空的散射輻射稱為太陽直接輻射。太陽直接輻射是用太陽直接輻射表(簡稱直接輻射表或直射表)測量。
直接輻射表技術(shù)參數(shù):
01.通道數(shù):第3路
02.光譜范圍:280----3000nm
03.靈敏度:7~14μV/W.m-2
04.響應(yīng)時間:≤30秒(99%)
05.顯示分辨率:1W
06.內(nèi)阻:約100Ω
07.跟蹤精度:24小時小于±1°
08.穩(wěn)定性:±1%
09.溫度特性:±1%(-20℃~+40℃)
10.重量:5kg
11.測試范圍:0~4000W/m2
12.電源電壓:DC 12V±l5% AC 220V±l0%
13.測試精度:±2%
14.信號輸出:0~20mV
4、散射輻射和反射輻射
輻射中把來自太陽直射部分遮蔽后測得為散射輻射或天空輻射。感應(yīng)面朝下所接所的為反射輻射。散射輻射和反射輻射都是短波輻射。這兩種輻射均用總輻射表配上有關(guān)部件加以測量。
4.1散射輻射表(總輻射+遮光環(huán)裝置)技術(shù)參數(shù)
01.通道數(shù):第5路
02.光譜范圍:280----3000nm
03.靈敏度:7~14μV/w.m-2
04.響應(yīng)時間:≤30秒(99%)
05.顯示分辨率:1W
06.內(nèi)阻:約350Ω
07.穩(wěn)定性:±2%
08.余弦響應(yīng):≤±7%(太陽高度角10°時)
09.溫度特性:±2%(-20℃~+40℃)
10.非線性:±2%
11.重量:2.5kg
12.精度:<5%
4.2反射輻射表技術(shù)參數(shù)
01.通道數(shù):第4路
02.光譜范圍:280-----3000nm
03.靈敏度:7~14μV/w.m-2
04.響應(yīng)時間:≤30秒(99%)
05.顯示分辨率:1W
06.內(nèi)阻:約350Ω
07.穩(wěn)定性:±2%
08.余弦響應(yīng):≤±7%(太陽高度角10°時)
09.溫度特性:±2%(-20℃~+40℃)
10.非線性:±2%
11.重量:2.5kg
12.精度:<5%
13.測試范圍:0~4000W/m2
14.信號輸出:0~20mV
5、JY/PC—2型太陽輻射記錄儀
該記錄儀采用高性能微處理器為主控CPU,大容量數(shù)據(jù)存儲器,可連續(xù)存儲數(shù)據(jù)(存儲時間可以設(shè)定),工業(yè)控制標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計,便攜式防震結(jié)構(gòu),大屏幕漢字液晶顯示屏(一屏顯示多路監(jiān)測要素可替代微機(jī)),輕觸薄膜按鍵。適合在惡劣工業(yè)環(huán)境使用。具有停電保護(hù)功能,當(dāng)交流電停電后,由充電電池供電,可維持72小時以上即可與微機(jī)同時監(jiān)測又可以斷開微機(jī)獨(dú)立監(jiān)測。
01.顯示方式:大屏幕液晶漢字及圖形顯示一屏顯示多路數(shù)據(jù) 液晶尺寸:115*65(mm)記錄儀具有良好的輕觸薄膜按鍵操作簡單實(shí)現(xiàn)對各路數(shù)據(jù)的實(shí)時觀測;
02.儀器尺寸:340*150*300(mm);
03.重 量:6.5Kg,金屬外殼;
04.工作環(huán)境:-40℃~+70℃相對濕度小于90%;
05.通 道 數(shù):5通道;
06.輸入范圍:±25Mv;
07.準(zhǔn) 確 度:0.5%;
08.顯示方式:大屏幕漢字液晶圖形顯示
09.分 辨 率:1W/㎡ ;
10.顯示內(nèi)容:日期,時間,輻射瞬時值、小時累計量及zui大值、日累計量及zui大值;
11.存儲內(nèi)容:日期,時間,輻射瞬時值、小時累計量及zui大值、日累計量及zui大值;
12.供電方式:采用交直流兩用供電方式在沒有交流電現(xiàn)場由充電電池供電同時也可配太陽能電池對蓄電池充電可保證系統(tǒng)在沒電地區(qū)常年穩(wěn)定工作;機(jī)內(nèi)電池連續(xù)工作時間:大于3天;太陽能電池功率:15瓦(選配);具有交流電(220V)與太陽能電池雙充電功能。
AC:220V±10% 50Hz DC:12V 可外接太陽能電池板;
13.通訊接口:標(biāo)準(zhǔn)RS232計算機(jī)通訊口;配USB/RS232轉(zhuǎn)換器可與微機(jī)USB接口通訊,配GSM無線通訊控制器,可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程遙測。
14.測試周期:<30mS;
15.顯示周期:10S;
16.系統(tǒng)軟件:太陽輻射監(jiān)測軟件(符合氣象監(jiān)測標(biāo)準(zhǔn))實(shí)時顯示各路輻射瞬時值累計量(小時,日);
17.存儲容量:>6000條數(shù)據(jù)。
配置:
太陽輻射記錄儀,總輻射表,自動跟蹤太陽直接輻射表(日照計),太陽紫外輻射表(UVAB),
太陽紫外輻射表(UVB),太陽輻射觀測臺架,電源線、數(shù)據(jù)通訊線及輻射表電纜,
太陽輻射觀測系統(tǒng)軟件,無線通訊控制器(可選配如不要去2000元),移動存儲控制器(可選配如不要去2000元)
產(chǎn)品名稱:平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 產(chǎn)品型號:JC-008 |
平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號:JC-008
用途:
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率:20W 電源:220V/50Hz 燈源照射
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于
計量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。